X射线荧光膜、X-ray Film TF-475-3
详细信息
| 品牌:美国premier | | 型号:TF-475-3 | | 加工定制:是 | |
| 规格:连续卷轴 | | 外形尺寸:76mm x 91.4m mm | | 重量:0.1 kg | |
| 材质:Kapton膜 | | 包装数量:1卷/盒 | | | |
X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜/聚丙烯膜、日本理学/岛津/斯派克、EDX迈拉膜/XRF测试薄膜、美国Premier样品膜、X-ray Film TF-475-3
品名:XRF样品膜Sample Film
型号:TF-475-3
品牌:美国Premier Lab (原装进口)
货期:现货
起订量:1盒以上。
一、美国Premier XRF样品膜:
美国Premier Lab Supply
公司专注于X
射线光谱分析XRF
的样品制备领域,以高质量和全面的X
射线的样品制备产品线享誉全球。
美国Premier X-ray
样品膜(X-ray Film
)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF
样品制备、检测过程,适用于各类X-ray
光谱仪(XRF
:WD-XRF
、ED-XRF
)。
X-ray Film
能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF
检测,适用于RoHS&WEEE
检测、油品成份分析、金属成份分析等。
二、Premier 样品膜特点:
有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择;
柔韧性强、方便、耐用;
极佳的X-ray
射线穿透性,适合各类XRF
光谱仪;
极佳的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品;
(几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。
三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:
日本岛津shimadzu
、牛津仪器Oxford
、斯派克Spectro
、布鲁克Bruker
、日本精工SII
、日本电子JEOL
、日本理学Rigaku
、日本堀场Horiba
、热电Thermo
、帕纳科Panalytical
、尼通Niton
、伊诺斯Innox-X
、天瑞Skyray
、Jordan Valley
、ARL
、Asoma
、Kevex
、Metorex
、Siemens
、Spectrace
、Philips
、Fisons
。
四、XRF样品膜目录:
美国Premier X-ray
样品膜种类:
(1
)、Hostaphan
膜;
(2
)、Kapton
膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;
(3
)、Mylar
膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;
(4
)、Polypropylene
膜:聚丙烯膜。
目录编号
CAT. NO
薄膜材料 厚度 长度 数量 描述
TF-475-3
Kapton
膜 7.5
μ(0.33mil) 76mm x 91.4m 1
卷/
盒 Kapton®Roll
连续卷轴